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电气设备介质损耗因数tanδ试验常用测量仪器 电

发布时间:2020-09-05 10:53人气:

Cx--样品等效电容;Rx--测试样品介质损耗等效电阻;Cn--标度电容

1,西林电桥

图1-1西林电桥原理接线图

湖北中试高测电气控股有限公司为您介绍:通用电气设备介质损耗因数测试仪tanδ试验

s-视在功率测量mva。

在B位置测量的Rb上的电压降IxRb(乘以相关常数)可以表示测试样品的视在功率S。

(2)实虚分离测量法:它是在实虚分离方法的基础上,连接到刻度电容的矢量电压表和采样通道上的全自动测量电桥分路器,将电流转换成电压测量,然后将各自的电压分成实部和虚部。利用微型计算机对这些数据进行分析计算,可以得到电容Cx和tanδ。

(3)数字采样波形分析系统:它是由采样系统和采样系统两大部分组成的智能系统,致力于将样品上的电压、电流信号转换成离散的数字量。其次,数据处理处罚系统主要由计算机组成。对采样的电压和电流信号进行快速傅立叶变换(FFT)处理,计算出信号基波分量的幅值和相位。最后得到了样品的介电常数(tanδ)和电容值。

图1-2为当前比力桥的原理接线图。当电桥平衡时,可根据安圈平衡原理

Cx=Cn(Wn/Wx)(3)

电气设备介质损耗正切值

注:由Pilot Holding生产的全自动抗扰介质损耗测试仪的使用按使用说明书进行。其基本原理接线如图1-4所示。

2、上式中符号含义与图1-1相同。

tanδ=ωC4R4(2)

(4)自动抗干扰介损测试仪(相位差法):它采用相位差法(或方波整形法),根据样品上的电压与流过样品的电流之间的夹角δ计算tanφ。通过滤波、限幅放大和过零比力电路将样品得到的电压和电流信号分解为方波信号。最后,相位脉冲通过异或门变成相位脉冲。相位脉冲经过与门后填充时标脉冲,最后送入单片机进行计数、处理和显示。系统在信号提取、零点漂移和量化误差等方面采取措施,使测量更加准确。

电气设备介质损耗因数tanδ试验的常用丈量仪器

M型介电测试仪是一种不平衡交流电桥。图1-3显示其主接线包括CN、Ra标尺支路Cx、Rx和无感电阻Rb试验支路“RC极性判别支路”的电源和测量电路。

Rb远小于受试者的阻抗。从图1-3可以看出,样品的大小和物相不会受到串联的影响。在

公式中:

R3--无感可调电阻;C4--可调电容;R4--无感坚固电阻;T-电源变压器

3,式(2)ω=2π=100π中的M型介质测试仪

,取R4为10000/π=3184Ω,则tanδx=C4的微观方法值为tanδ值,即介质测试仪

Rx-电源变压器;Rx和Cx的介质损耗等效电阻和等效电容--受试者;Rb--测试支路的无感电阻

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